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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。掃描電鏡是一款具有高精度的電子儀器，在使用過(guò)程中需要注意很多的東西，才能夠延長(zhǎng)掃描電鏡的使用壽命，在操作中有哪些具體的要求呢？下面小...

電子顯微鏡作為微觀形貌觀察的有力工具，正越來(lái)越迅速、廣泛地應(yīng)用于冶金、礦物、化工、醫(yī)藥、生物、食品、納米材料等領(lǐng)域。相對(duì)透射電鏡，掃描電鏡真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對(duì)較短，一般只有幾十個(gè)小時(shí)。燈絲壽命短直接帶來(lái)儀器運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時(shí)間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。在實(shí)際工作中，通過(guò)采取一些措施可以顯著延長(zhǎng)燈絲使用壽命。1.準(zhǔn)確對(duì)中燈絲安裝、更換新燈絲時(shí)仍需檢查燈絲的對(duì)中情況，最好將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否...

掃描電鏡中的二次電子分析如果在樣品的上方安裝一個(gè)環(huán)形電子檢測(cè)器，用于搜集從樣品出射的能量在0~E。范圍內(nèi)的電子，可以獲得一條類似圖的曲線，橫坐標(biāo)為出射電子能量E，縱坐標(biāo)為電子數(shù)量N。曲線最右端E。處是彈性背散射電子峰，僅占一小部分，大部分背散射電子在E。左邊I區(qū)域，其能量損失小于40%，對(duì)于多數(shù)中等和高原子序數(shù)的樣品出射的背散射電子落在這個(gè)隆起部位，而小部分能量損失大于40%的背散射電子處于區(qū)域Ⅱ，形成了曲線的尾部，如果把曲線向左外推到0能量處，其檢測(cè)到的電子數(shù)目應(yīng)為零，但實(shí)...

掃描電鏡和電子探針儀所應(yīng)用的主要信號(hào)電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號(hào)是掃描電鏡獲得廣泛應(yīng)用的基礎(chǔ)。本文重點(diǎn)講述掃描電鏡和電子探針儀所應(yīng)用的主要信號(hào)，探討每種信號(hào)的成因、取樣區(qū)域和攜帶信息。掃描電鏡和電子探針儀在掃描電鏡鏡筒中，電子束通過(guò)電磁透鏡聚焦和電場(chǎng)加速，人射到樣品中，束電子與樣品原子核或核外電子發(fā)生多種相互作用，而被散射，引起束電子的運(yùn)動(dòng)方向或能量（或兩者同時(shí)）發(fā)生變化，從而產(chǎn)生各種反映樣品特征的信號(hào)。掃描電鏡和電子探針儀利用相應(yīng)的探測(cè)器檢測(cè)這些信號(hào)，獲得樣品的不同特...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料...