掃描NV探針顯微鏡SNVM

掃描NV探針顯微鏡SNVM（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，）是一款結合了金剛石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探測磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技術和原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）掃描成像技術的量子精密測量儀器，可實現(xiàn)對磁性樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無損的磁成像。

核心參數(shù)

應用領域

掃描NV探針顯微鏡用于BFO薄膜磁成像

多鐵性材料是一類具有多種鐵電和鐵磁性質的材料，在數(shù)據存儲、傳感器技術、自旋電子學、新型電子器件等領域具有廣泛的應用潛力。鐵酸鉍（BiFeO3）作為材料科學中的一個研究熱點，其反鐵磁性讓其磁疇的觀測變的不易。

掃描NV探針顯微鏡因具有較高的磁測量靈敏度，是一種能夠實現(xiàn)BFO實空間反鐵磁序測量的新手段，類似的研究可以擴展到其他相同體系，為自旋電子學的發(fā)展指明道路。

參考文獻：Nature 549, 252 (2017)

掃描NV探針顯微鏡用于給單個磁通渦旋雜散磁場成像

探究超導材料的微觀機制是現(xiàn)代凝聚態(tài)物理的核心課題之一，對于新型超導材料研究至關重要。超導磁通渦旋可反映出超導的基本參數(shù)，如相干長度、穿透深度以及超導能隙對稱性等。對磁通渦旋進行表征可為探究超導的微觀機理提供更多的實驗依據。

掃描NV探針顯微鏡能夠實現(xiàn)極低溫下高空間分辨、高靈敏、定量無損的磁通渦旋成像。

參考文獻：Nature Nanotech 11, 677(2016)

掃描NV探針顯微鏡用于扭曲雙層CrI3測量

二維磁性材料的發(fā)現(xiàn)對于自旋電子學的研究是一個新的方向，在自旋電子學器件方面有潛在應用價值。近年來實驗中發(fā)現(xiàn)了一批二維磁性材料，如CrI3、Fe3GeTe2等。因為二維磁性材料的磁場強度弱，轉變溫度低等特點，掃描NV探針顯微鏡具備的高靈敏度、高空間分辨率和環(huán)境兼容性，很好的滿足了這方面的測量需求。

參考文獻：Science 374，6571(2021)

測試案例

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